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易操作、多功能、多用途的X射线衍射仪的新时代!
X射线衍射仪可在大气中无损分析样品,进行物质的定性分析、晶格常数确定和应力测定等。并且,可通过峰面积计算进行定量分析。
可通过半高宽、峰形等进行粒径/结晶度/X射线结构解析等各种分析。
LabX XRD-6100
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对应工业环境测定标准 · 工业环境评价标准修订
X射线衍射装置XRD-6000 环境测定包
适于工业环境中的游离硅以及石棉的定性 · 定量分析。
在劳动安全卫生法中,关于因劳动者在工作中的暴露而对其造成健康损害的92种物质,规定必须实施其作业环境的测定。其中,粉尘中的游离硅以及石棉的定性·定量分析可以使用X射线衍射装置。最近因相关法规的修订,对有害物质的管理浓度、分析程序进行了修改。
本测定包配备了依据「基底标准吸收校正法」的样品台和定量软件,这不仅是使用X射线衍射装置XRD-6000对收集在滤纸上的工业环境测定中的游离硅、石棉进行定性分析需要的,在这些微量样品的定量分析中也是必要的。
游离硅的定性·定量分析
工业环境测定中矿物性粉尘的管理浓度为按以下公式计算出的量。(从2005年4月1日开始实行)
E=3.0/(0.59Q+1) (参考)修订前E=2.9/(0.22Q+1)E:管理浓度mg/m3 Q:游离硅含有率(%)
所以知道粉尘中游离硅酸的含有率是很重要的。
游离硅种类有石英、微晶物、鳞石英等。 在此回修订中,首先规定使用X射线衍射装置掌握含有什么种类的游离硅(定性分析),根据其定性结果,以使用磷酸法或X射线衍射装置的基底标准吸收校正法进行定量。
下图表示这些游离硅的衍射模式,分别具有各自的特征峰,因此,易于识别其种类。
物质的衍射X射线强度因受基底物质吸收的影响,必须进行校正。为进行校正必须求得基底物质的X射线吸收系数。可在一次的测定中将其完成的方法就是「基底标准吸收校正法」。本测定包包括采用了此基底吸收校正法的专用定量分析软件。
各種游离硅的衍射模式
石棉的定性·定量分析
关于石棉,在2005年7月实施了【石棉伤害预防规则】。适用此规则的建材等样品,如果其石棉含量超过重量5%左右以上,则可使用X射线衍射装置以标准添加法或内标添加法对采集来的样品进行定量,但对于少于上述含量的样品有时不能进行定量。
此时,作为只溶解样品基底成分的前处理方法,实施甲酸前处理法,然后使用X射线衍射装置以基底标准吸收校正法进行定量。
在石棉的定性 · 定量分析中,也可使用配备有基底标准吸收校正法的环境测定样品台的X射线衍射装置XRD-6000环境测定包。
各种石棉的衍射模式
石棉主要有蛇纹石类的纤蛇纹石,角闪石类的铁直闪石、虎睛石等。使用X射线衍射法利用它们的特峰进征行定量分析。
1. | X射线衍射装置XRD-6000(2kW,NF Cu管球) | 1套 |
2. | 石墨单色仪(CM-3121) | 1套 |
3. | 环境测定样品台(RS-2001) 【规格】· 旋转样品台 | 1套 |
4. | 冷却水循环装置 | 1套 |
1. | 基底标准吸收校正用滤片架(Al) |
2. | ICDD数据库(PDF2 CD-ROM) |
3. | PDF2检索软件 |