MDPlinescan在线晶圆片/晶锭点扫或面扫检测仪
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应用范围:灵活的OEM设备,用于多种不同样品的在线寿命测量:从单晶硅到多晶硅锭,从生成态晶圆片到不同镀层或金属化晶圆的过程控制。标准软件接口,易于连接到许多处理或自动化系统。
MDPlinescan是一个易于集成的OEM单元,可集成到各种自动化的检测线。关键的测量参数是实时的载流子寿命扫描。
样品通常由测量头下的传送带或机器人系统来输送。应用实例从晶锭到晶圆的检测,每个晶圆的测量速度小于一秒。
电池生产线上的来料质量检查是的一种应用方向,同样,钝化和扩散后的工艺质量检查也能用到此款产品。
还有许多其他的专门应用可能性。由于其易于集成,只需要以太网连接和电源。
产品介绍
特性
优势
技术参数
样品种类 | 多晶或单晶晶元片, 晶锭,晶胞 |
样品尺寸 | 大约50 x 50 mm² |
电阻率 | 0.2 - 10³ Ohm cm |
电导类型 | p, n |
材质 | 硅晶圆,部分或加工晶圆,化合物半导体等 |
测量属性 | 载流子的少子寿命 |
硬件接口 | ethernet |
大小 | 174 x 107 x 205 mm, 重量: 3 kg |
电源 | 24 V DC, 2 A |