DTA-1150 高温差热分析仪

概况：

差热分析是在程序控制温度下，测量物质与参比物之间的温度差与温度关系的一种技术。差热分析曲线是描述样品与参比物之间的温度(△T)随温度或时间的变化关系。在DTA试验中，样品温度的变化是由于相转变或反应的吸热或放热效应引起的。如：相转变，熔化，结晶结构的转变，沸腾，升华，蒸发，脱氢反应，断裂或分解反应，氧化或还原反应，晶格结构的破坏和其他化学反应。

主要特点:

1.全新的炉体结构，更好的解析度和分辨率以及更好的基线稳定性仪器主控芯片

2.数字式气体流量计，控制吹扫气体流量，数据直接记录在数据库中

3.仪器可采用双向控制（主机控制、软件控制），界面友好，操作简便

4.采用Cortex-M3内核ARM控制器，运算处理速度更快，温度控制更

5.采用USB双向通讯，操作更便捷

6.采用7寸24bit色全彩LCD触摸屏，界面更友好

7.采用专业合金传感器，更抗腐蚀，抗氧化

技术参数:

1.DSC量程:  0～±600mW

2.温度范围:室温~1150℃

3.升温速率: 0.1~80℃/min

4.温度分辨率: 0.1℃

5.温度波动: ±0.1℃

6.温度重复性: ±0.1℃

7.DSC噪声: 0.01μW

8.DSC解析度: 0.01μW

9.DSC度: 0.01mW

10.DSC灵敏度: 0.01mW

11.控温方式: 全程序自动控制

12.曲线扫描: 升温扫描

13.气氛控制: 仪器自动切换

14.显示方式: 24bit色，7寸 LCD触摸屏显示

15.数据接口: 标准USB接口

16.参数标准: 配有标准物质，带有一键校准功能，用户可自行校正温度和热焓

标准配置：

氧化诱导期温度曲线：

玻璃化温度曲线：

熔点曲线：