恒温箱手机电源芯片半导体测试高低温试验箱
高低温试验箱:适用于工业产品高温、低温的可靠性试验。对电子电工、汽车摩托、航空航天、船舶兵器、高等院校、科研单位等相关产品的零部件及材料在高温、低温(交变)循环变化的情况下，检验其各项性能指标。

产品具有较宽的温度控制范围，其性能指标均达到国家标准GB10592-89高低温试验箱技术条件，适用于按GB2423.1、GB2423.2《电工电子产品环境试验 试验A:低温试验方法，试验B:高温试验方法》对产品进行低温、高温试验及恒定温热试验。产品符合GB2423.1、GB2423.2、GJB150.3、GJB150.4、IEC、MIL标准。

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                     恒温箱手机电源芯片半导体测试高低温试验箱

一、用途
   适应于仪器、仪表、电工、电子产品电子零组件，成品、半成品、半导体、化学、材料等个中环境测试整机及零部件等作温度快速变化或渐变条件下的适应性试验及应力筛选试验以便对试品在拟定条件下的性能、行为作出分析及评价（快速变化）.符合 MIL-STAND.IEC,S 测试规范
    快速温变试验机，采用欧美之防爆把手，外观质感高水准，全系列日制控制器，进皆式设定，操作简单，快速升降温试验箱可供作超低温试验，电子零组件，成品、半成品、半导体、化学、材料等个中环境测试设备。

二、试验方法
1.GB2423.1-89 试验 A 低温试验方法
2.GB2423.2-89 试验 B 高温试验方法
3.IEC68-2-1 试验 A
4.IEC68-2-1 试验 B
5.GJB1032-90 环境应力筛选方法

三、满足标准
1.GB10589-89 低温试验箱技术条件
2.GB11158-89 高温试验箱技术条件
3.GB10592-89 高低温试验箱技术条件
4.GB2423.1 低温试验、试验A
5.GB2423.2 高温试验、试验B
6.GB2423.22 温度变化试验、试验N
7.IEC68-2-1 试验A
8.IEC68-2-2 试验B
9.IEC68-2-14 试验N

六、技术参数

升降温速率：3℃/分, 5℃/分, 8℃/分,10℃/分,15℃/分钟线性平均或非线性平均.
非线性时可达25℃/分钟,若需特殊规格请洽询本公司.
控制稳定度：&plsmn;0.5℃
分布均匀度：&plsmn;1.5℃
温度偏差：≤&plsmn;2℃
正常升温时间：-70℃~150℃小于60分;-40℃~150℃小于50分;-20℃~150℃小于35分.
正常降温时间：+20~-70℃小于70分;+20~-40℃小于55分;+20~-20℃小于35分.
内箱材质：SS 304#镜面不锈钢板
外箱材质：特殊防锈处理之钢板喷塑或SS304#纹路处理之不锈钢.
保温层材质；P发泡+玻璃棉.
底座材质：国标角铁+槽钢.
冷凍系統；風冷或水冷式歐美半封閉或封閉壓縮機組,散熱片式自动负载容量调整蒸發器.
加热系统：加热器:不锈纲鳍片散热管型加热管加热空气循环方式.
安全保护装置：无熔丝过载探保护,压缩机过热, 过流,超压,加热干烧, 箱内超温警报系统.
标准配置：观视窗(45x30cm),测试孔(￠50x1只),试料架(2组) 超温保护器, 视窗灯.