让高生产率的称量工作变得简单:

梅特勒XS 分析天平致力于获得高生产率。 XS 天平的诸多优势关注于一个目标：使您更加简单、安全地工作，从而实现更高的效率。

梅特勒XS 分析天平性能特点:

●采用分离的称量单元和显示控制单元，避免电子元件散热对称量结果准确性的影响
●优化天平适应性的称量参数设置，满足不同称量环境要求
●可拆卸、清洗的内部和外部玻璃防风罩设计，实现天平的快速清洁
●丰富的内置称量应用程序：基础称量、统计功能、配方称量、计件称量、百分比称量、密度测量、动态称量
●GWPExcellence^TM一体化安全功能，确保天平始终正确工作

触摸屏（TouchScreen）：背亮式触摸屏是天平操作更加快速简便。中文界面和图符显示的用户操作指南清晰易懂，帮助您有效节省操作时间。

网格秤盘（SmartGird）：有效降低称量室中气流对称量的影响，从而缩短稳定时间。称量过程中如果出现差错，样品会直接散落在网格秤盘（SmartGird）下的金属底盘上，因而不会影响称量结果，且不浪费您的样品。

技术参数:

DR=变量程；DU=双量程；sd=标准偏差