产品用途：

   BX-G105 自动椭圆偏振测厚仪是基于消光法（或称“零椭偏”）测量原理，针对纳米薄膜厚度测量领域推出的一款自动测量型教学仪器。BX-G105仪器适用于纳米薄膜的厚度测量，以及纳米薄膜的厚度和折射率同时测量。 BX-G105仪器还可用于同时测量块状材料（如，金属、半导体、介质）的折射率n和消光系数k。

仪器特点：

1. 经典消光法椭偏测量原理：仪器采用消光法椭偏测量原理，易于操作者理解和掌握椭偏测量基本原理和过程

2. 方便样品水平放置方式：才用水平放置样品的方式，方便样品的取放

3. 紧凑的一体化结构：集成一体化设计，简洁的仪器外形通过USB接口与计算机相连，方便仪器使用

4. 高准确性的激光光源：采用激光作为探测光波，测量波长准确度高

5. 丰富实用的样品测量功能：可测量纳米薄膜的膜厚和折射率、块状材料的复折射率等

6. 便捷的自动化操作：仪器软件可自动完成样品测量，并可进行方便的测量数据分析、仪器校准等操作

7. 用户使用权限管理：软件中设置了用户使用权限（包括：管理员、操作者等模式），便于仪器管理和使用

8. 可扩展的仪器功能上：利用本仪器，可通过适当扩展，完成多项偏振测量实验，如马吕斯定律实验、旋光测量实验、旋光等