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产品用途：
BX-G102系列针对科研和工业环境推出的高精度快速摄谱型广义光谱椭偏仪，波长范围覆盖紫外、可见到红外。 广义光谱椭偏仪采用宽带超消色差补偿器、利用步进补偿器扫描测量采样模式、基于高灵敏度探测单元和光谱椭偏仪分析软件，用于测量纳米薄膜样品、块状材料和各向异性材料。
仪器特点：
1. 双旋转补偿器测量技术：可测量样品的Muller矩阵的全部16个元素
2. 秒级的全光谱测量速度：全光谱测量典型10秒
3. 原子层量级的检测灵敏度：可以测量单原子层
4. 视频式样品对准：准确完成样品对准，并方便观察，减小人为误差
5. 入射角和反射角可以单独调节：独立多入射角度结构设计，增强了仪器测量的灵活性。适用于反射、透射、散射样品的测量场合
6. 一键式仪器操作：对于常规操作，只需要鼠标点击一个按钮即可完成复杂的测量、建模、拟合和分析过程，丰富的模型库和材料库也同时方便了用户的操作需求
技术参数：
