宇问 EC-770X大量程涂层测厚仪

一、

二、产品特色

采用双核处理架构，32位ARM处理器，显著提升运算效率；

采用128*128高分辨率点阵液晶；

可达10000微米超宽测量范围；

可达1%超高精度；

大点阵液晶屏，标准化菜单操作；

超限红色背光报警；

屏幕旋转倒置功能；

两种测量模式：单次（Single)和连续(Continuous)；

两种组模式：直接组(DIR)和通用组(GEN),一个直接组和四个通用组，每组可存储500个数据；一共2000个数据。

可零校准，拥有全自动校准算法，省去人工反复校准；

用户可随时查看当前工作组已测得的数据，并删除数据或整组数据；

实时显示当前工作组统计值：平均值(Mean),最小值(Min)，值(Max),标准方差(Sdev)；

三种探头模式: 自动(Auto)、磁感应(Magnetic)和涡流(Eddy Current)；

可为各组单独设置高低限报警值，超屏幕指示报警；

可开启或关闭自动关机功能；

USB接口可传输通用组数据到计算机；

低电和错误提示；

适合恶劣条件使用；

三、应用场景

本仪器能无损伤、快速、精密地进行涂、镀层厚度的测量。它能广泛应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域，是材料表面处理工程的仪器。它可以稳定地工作于实验室、车间现场和户外。

四、产品描述

EC-770X涂层测厚仪，能同时测量磁性基材表面（如钢、铁等）的非磁性涂镀层（如油漆、陶瓷、铬等），以及非磁性金属基材表面的非导电涂镀层（如油漆等）。本仪表内置高精密双探头，利用电磁感应和涡流效应，全自动探测基材属性，计算涂镀层厚度，并通过点阵液晶快速显示结果。同时，测量数据可分组保存，并实时显示统计值。用户可分别为每组设置上下限报警值、零校准。全新的零校准，让您非常方便的随时进行校准。标准化菜单，确保您非常容易的使用它。