产品简介：

       高纯锗探测器是近年来发展极为迅速的一种探测器类型。基本原理是将辐射能量通过高纯锗晶体进行吸收，当射线与高纯锗晶体发生相互作用时将产生电子——空穴对。由于电子——空穴对的能量较低，所以该种探测器具有能量分辨率高且线性范围宽等优点。

高纯锗探测器：

“优化P型”高纯锗探测器：GEM-S/GEM-C/GEM-SP

• 提供三个具有较强针对性的优化型探测器；
• 性能指标上综合了传统GEM与GMX探测器的优势；能量下限将至3keV；分辨率优异；中低能段效率显著提升；
• 采用超薄可靠接触极；在常温下保存不会破坏探测器性能；
• 严格保证效率、分辨率、峰形与峰康比等指标，保证探测器晶体生长质量；
• 以晶体尺寸定义其型号，同一型号的探测器采用相同的晶体结构和尺寸，从而保证了相当一致的效率曲线。

ORTEC数字化谱仪的基本特征：

• 一切控制与参数设置由计算机进行；
• 数据通过率：大于100kcps（DSPEC-Pro大于130kcps）；
• 数字化稳谱、数字化自动极零、自动优化、内置虚拟示波器和数字化门控基线恢复等功能；
• 用户可结合软件预置多个核素的MDA，在所以MDA满足时自动终止计数；统一的即插即用式背面板接口，与DIM / Smart-1匹配，相互间具有良好的互换性与兼容性；