镀层测厚仪MAXXI 6提供高性能、快速可靠无损的镀层厚度测量及材料分析，确保产品质量的一致性和高品质。

• 高分辨率的硅漂移器（SDD）

• 开槽式超大样品舱设计

• 8个准直器

• USB接口与计算机连接

        我们的镀层测厚仪是基于X射线荧光光谱分析技术，该技术已被普遍认可并且得到广泛应用，可以在无需样品制备的情况下提供易于操作、快速和无损的分析。

        镀层测厚仪 MAXXI 6 配备多准直器系统及超大样品舱，针对较薄而复杂的样品，具有的解决方案。MAXXI 6 可分析固体和液体，元素范围包括从元素周期表中的13Al到92U。

 

亮点

• 采用微聚焦X射线光管，实现高精度、高可靠性、测量时间短、购置成本低

• 采用高分辨率的硅漂移探测器（SDD），提供能量级别的效率，极低的检出限（LOD）

• 多准直器可优化不同尺寸样品荧光信号产额，提高测量效率

• 开槽式超大样品舱设计，十分适合电路板或其他超大平板样品

• “USB接口”只需通过USB与计算机连接，无需额外的硬件或软件

• 德国制造，符合工程标准，坚固耐用的设计可实现长期可靠性

• 通过PTB（Physikalisch Technische Bundesanstalt）认证，满足辐射安全标准

性能及符合性

• 最多同时测定5层，15种元素及共存元素的校正

• 同时实现多于25种元素的定量分析

• 检测方法通过ISO 3497, ASTM B568, DIN 50987和IEC 62321等认证

开槽式大样品台

• 可编程的XY样品台

• 样品腔体积：500 × 450 × 170 mm

• 创新的防撞设计

可编程的样品台

• 预定位激光技术

• 的样品台行程范围及速度

• 自动测量 

 

软件及校准

• 基于WindowsTM 7操作系统，直观的软件MaxxControl

• 选择经验校准以实现准确性或选择FP无标样模式以轻松实现校准

• 成分分析：可自由选择元素；厚度测量：可自定义镀层结构

• 对RoHS和贵金属进行工厂预装校准（可选）