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ESD-1000远方LED抗静电能力自动测试系统
面议MAT-200D LED模组自动测试系统(针对LIGHT BAR灯条方案)
面议LED626 LED分布光度计
面议PCE-2000B单颗LED/模组光色电测试系统
面议ATA-500UV LED自动温控光电分析测量系统-紫外
面议PCE-2000UV 紫外LED/模组辐射测试系统
面议DMS-8500大型显示器光学特性测试系统
面议DRT-3000显示器响应时间测量仪
面议HUD-2000抬头显示器光学特性测量系统
面议SPIC-300 光谱彩色照度计
面议SFIM-400光谱闪烁照度计
面议USR-200 紫外光谱辐射照度计/UV能量计
面议采用多项技术,具备精细结构函数分析功能
● 用于LED封装产品的热阻、结温及分层热阻结构的精密分析;
● 采用TRA专用软件进行结构函数分析,可以获得LED精细的热阻结构(从芯片至各封装结构的热阻值),从而客观评价LED封装产品的散热质量和热管理水平,为LED的散热设计提供验证。
主要参考标准
● EIA/JESD 51-1~14 Integrated Circuits Thermal Measurement Method
● MIL-STD-750D Test Method for semiconductor Device
● SJ 20788-2000 半导体二极管热阻测试方法
● GB/T 4023-1997 半导体器件分立器件和集成电流第二部分:整流二极管
● QB/T 4057-2010 普通照明用发光二极管性能要求