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Planum-3000平面光学元件光谱分析仪
全自动透光率/反射率分析仪
型号：Planum-3000
用途：用于各类平面光学元件的反射、透射光谱快速测量。可进行多角度相对/
反射率、透过率测量，偏振光测量，膜性测量。
Planum-3000平面光学元件光谱分析仪-适宜测量范围：棱镜、平行平板、镜面等平面光学性能。
操作软件界面
平面光学元件光谱分析仪的技术参数：
型号 Planum-3000（Ⅰ型） Planum-3000（Ⅲ型） 探测器 Sony线形CCD 阵列 Hamamatsu背照式2D-CCD 检测范围 380-1000nm 360-1100nm 波长分辨率 1nm 1nm 信噪比（全信号） 250:1 1000:1 相对检测误差 ﹤1%（400-800nm） ﹤0.2%（400-800nm） 重复定位精度 ﹤0.005° 透射测量角度 0-80°（小样品0-50°） 反射测量角度 10-80°（可扩展到5°） 样品尺寸 ﹥Φ5mm 单次测量时间 <1ms S/P光测量 支持 其他 可自定义打印报告格式，开放式光学材料数据库
