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特点:
1、 高波长精度
在600至1750nm全波长范围内,精度可达±0.1nm,在1520-1580nm范围内,精度高达±0.02nm,在1450到1520nm、1580-1620nm范围,精度高达±0.04nm。特别适用于WDM器件的高精度波长损耗特性测量。
2、 高波长线性度
±0.01nm(C波段);±0.02nm(S及L波段)
3、 高波长分辨率
波长分辨率可达15pm甚至更好。
图1 DFB激光光谱的测量举例
4、 适用50GHz WDM信号的宽动态范围
在峰值±0.4nm时的动态范围为70dB,在峰值为±0.2nm时的动态范围为60dB。
对于50GHz WDM系统在宽动态范围内可进行高精度测量。
图2动态范围内进行**测量的例子
5、 更快的测量速度
在高精度测量时,比以前型号的测量速度加快2倍以上。
6、 多种分析功能
对WDM以及其它光学设备(LD,LED,FBG等)的分析功能、可编程功能,光放大器噪声分析功能、曲线拟合功能、多信道噪声分析的SSE抑制功能。另外,还增加了模板用于生产质量测试的检验功能,外部气体吸光设备校正波长功能。
7、 同步扫描
与一个AQ4321A/D可调谐光源连接,通过高速同步扫描(*高速度:10nm/秒)可达到更高波长分辨率和更宽的动态范围。
8、 宽带宽、高灵敏度和大功率测量
-90至+20dBm(1200to1600nm)
-80至+20dBm(1600to1700nm
高灵敏度使得对低至-90dBm的光波都能进行测量,覆盖范围为1200至1600nm.
能对光放大器和高功率激光二级管进行直接测量,因为对每一个分辨率达至+20dBm的测量都是可能的。
9、 低偏振相关特性
偏振相关性被压低至±0.05dB可**地对诸如光放大器增益等器件特性进行测量。
10、 高精度
精度控制在±0.3dB
11、9.4英寸彩色Lcd
12、 能测量脉冲光
13、 有三个单独的轨迹,存储器。
适用光纤 | SM、GL(50/125μM) | |
测量波长范围 | 600至1750nm | |
波长**度1。31 | 经内置的标准光源校准后、±0.02nm(1520至1580nm)、±0.04nm(1450至1520nm)(1580至1620nm)、±0.1nm(600至1750nm) | |
波长线性度1。31 | ±0.01nm(1520 to 1580nm)、±0.02nm(1450 to 1520nm)(1580 to 1620nm) | |
波长重复性1。31 | ±0.005nm(1min) | |
波长分辩率1。31 | *高分辩率:0.015nm或更高(1520 to 1620nm,分辩率:0.01nm)分辨设置:0.01,0.02,0.05,0.1,0.2,0.5,1.0,2.0nm | |
分辩率精度1。31 | ±5%(1300 to 1650nm),分辩率(0.05nm或更高分辩率更改:ON) | |
测量光功率范围2。31 | -90 to +20dBm(1200 to 1650nm,灵敏度:HIGH 3)、-80 to +20dBm(1000 to 1200nm,灵敏度:HIGH 3)、-60 to +20dBm(600 to 1000nm,灵敏度:HIGH 3) | |
功率精度3。41 | ±0.3dB(1310/1550nm),输入:-30dBm,灵敏度:HIGH 1 to 31 | |
功率线性度2。31 | ±0.05dB(输入:-50 to +10dBm,灵敏度:HIGH 1to 3) | |
功率平坦度2。31 | ±0.1dB(1520 to 1580nm)、±0.2dB(1450 to 1520nm)(1580 to 1620nm) | |
偏振相关性2。31 | ±0.06dB(1550/1600nm), ±0.06dB typ(1310nm) | |
动态范围31 | 60dB(1523nm,峰值±0.2nm,分辩率0.01nm)、70dB(1523nm,峰值±0.4nm,分辩率0.01nm)、45dB(1523nm,峰值±0.2nm,分辩率0.1nm) | |
扫描时间 | 大约500mal 跨度:100nm或更小,灵敏度:NCRM、HDLD AYR (1.5MPL:501,分辩率校正:OFF)、大约0.5min(跨度:100nm或更小,灵敏度:HIGH)、AVR,1 SMPL,501无信号 | |
功能 | 自动测量 | 编程功能(20个程序,200个步骤)长期测量功能 |
测量条件的设置 | 扫描宽度:0-1200nm | |
测量灵敏度:NORMAL HOLD/AUTO;MID,HIGH 1/2/3 | ||
平均次数:1-1000次 | ||
取样数量:11-20001,AUTO | ||
测量条件自动设定功能 | ||
标志间扫描功能 | ||
Onm扫描功能 | ||
脉冲光测量功能 | ||
空气/真空波长测量功能 | ||
TLS同步测量功能 | ||
模板化测量功能 |