SIR13绝缘劣化及离子迁移特性评价系统
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绝缘劣化及离子迁移特性评价系统 用 途：
面对电子产品越来越小型轻量及高密度封装，因结露吸湿等因素造成的绝缘不好现象暨离子迁移现象日益突出，绝缘电阻劣化（离子迁移）评估系统配之以高温高湿试验箱联动，可高精度连续监测，高效简便评估因离子迁移现象引起的寿命及绝缘电阻劣化相关问题。
绝缘劣化及离子迁移特性评价系统适用标准：
JPCA-ET04、IPC-TM-650_2.6.3F 、IPC-TM-650_2.6.3.1E、IPC-TM-650_2.6.3.4A 、IPC-TM-650_2.6.3.6。
绝缘劣化及离子迁移特性评价系统 技术规格：
| 产品名称 | 绝缘劣化及离子迁移特性评价系统 | |||||||||||
| 型号 | SIR13 | |||||||||||
| 120V基板 | 250V基板 | 500V基板 | 1000V基板 | |||||||||
| 基板测试部 | 测试电阻范围 | 320Ω～120TΩ | 320Ω～2.5TΩ | 320Ω～250TΩ | 320Ω～500TΩ | 320Ω～1000TΩ | ||||||
| 测试通道数 | 8ch/基板 | 16ch/基板 | 8ch/基板 | |||||||||
| 连接电缆 | 2根一对/基板 4线式 | 2根一对/基板 加载测试电缆×2 | 2根一对/基板 加载电缆×1、测试电缆×1 | |||||||||
| 电气特性 | 电 压 加 载 部 | 加载电压 | 电压量程1 | 0.10V～120.00V | 0.1V～250.0V | 1.0V～500.0V | 1.0V～1000.0V | |||||
| 电压量程2 | 0.100V～12.000V | -- | -- | -- | ||||||||
| 加载设定分辨率 | 0.10V/0.001V | 0.1V | ||||||||||
| 基本加载精度 | ±0.3%/FS | ±0.3%/FS + 0.5V/FS | ||||||||||
| 较大输出功率 | 96mW/ch | 256mW/8ch | 300mW/ch | |||||||||
| 加载组数 | 1组（1ch/1组） | 2组（8ch/1组） | 1组（8ch/1组） | |||||||||
| 加载量程 | 2量程 | 1量程 | ||||||||||
| 加载通道数 | 1ch | 8ch | ||||||||||
| 较大负载容量 | 2.0μF/1ch | 0.47μF/8ch | 3300pF/1ch | |||||||||
| 电 压 显 示 器 | 显示器量程 | 2量程 | 1量程 | |||||||||
| 显示器 范围 | 电压量程1 | 0.00V～120.00V | 0.0V～250.0V | 0.0～500.0V | 0.0V～1000.0V | |||||||
| 电压量程2 | 0.000V～12.000V | -- | -- | -- | ||||||||
| 显示器分辩率 | 0.10V/0.001V | 0.1V | ||||||||||
| 基本显示器精度 | ±0.3%/FS | ±0.3%/FS + 0.5V/FS | ||||||||||
| 显示器分割单位 | 1ch | 1组或1ch | 1ch | |||||||||
| 显示器周期 | 40ms | |||||||||||
| 显示器通道数 | 8ch | 16ch | 8ch | |||||||||
| 电 流 测 试 | 测试量程 | 3量程 | 2量程 | 3量程 | ||||||||
| 显示器 范围 | 电流量程1 | 0.00μA～320.00μA | ||||||||||
| 电流量程2 | 0.0000μA～3.2000μA | |||||||||||
| 电流量程3 | 0.00nA～32.000nA | -- | 0.000nA～32.000nA | |||||||||
| 量程设定 | 320.00μA·3.2000μA ·32.000nA·自动 | 320.00μA·3.2000μA·自动 | 320.00μA·3.2000μA·32.000nA·自动 | |||||||||
| 测试较小分辨率 | 电流量程1 | 10nA | 10nA | 10nA | ||||||||
| 电流量程2 | 100pA | 100pA | 100pA | |||||||||
| 电流量程3 | 1pA | 1pA | 1pA | |||||||||
| 基本测试精度 | ±0.3%/FS | |||||||||||
| 通道数 | 8ch | 16ch | 8ch | |||||||||
| 数据收录周期 | 定期30s（较小）/离子迁移时40ms（较小） | |||||||||||
| 离子迁移测试速度 | 40ms | |||||||||||
| 漏泄检出 | 400μs/ch | |||||||||||
| 测试周期 | 40ms | |||||||||||
| 其他功能 | 自己诊断 | 外接标准电阻诊断 ※选配 | ||||||||||
| 连锁 | 箱体门打开时，测试自动中断功能 ※选配 | |||||||||||
| 断线检出 | 端子断线检出功能 | -- | ||||||||||
| 试验槽内温湿度收录 | 追加温湿度测试基板、借助3CS·keyless软件较大可以收录4个槽的数据 ※选配 | |||||||||||
| 样品温度收录 | 通过3CS SMU 每个通道能够收录1个点 ※选配 | |||||||||||
| 系统较大构成 | SIR13 | 80ch（10基板） | 160ch（10基板） | 80ch（10基板） | ||||||||
| SIR13mini | 24ch（3基板） | 48ch（3基板） | 24ch（3基板） | |||||||||
| 控制部 | 系统控制电脑 | Windows XP Pro.SP2适于Windows2000） Pentium 500MHz以上 内存256Mbyte以上 | ||||||||||
| 测试部的连接 | GP-IB 或Ethernet | |||||||||||
| 其他 | 停电对策 | 停电发生前保存收录数据，并且通电后能够继续收录 ※不停电电源必须 | ||||||||||
| 控制单元 | 结构类型 | SIR13 | SMU 10插槽式 外形尺寸:W430×H300×D620 ※不包含突起部分 重量：约30kg（SMU 10枚配备时） 消耗电流：5A以下（100V使用时） | |||||||||
| SIR13mini | SMU 3插槽式 外形尺寸:W220×H370×D390 ※不包含突起部分 重量：约20kg（SMU 3枚配备时） 消耗电流：2A以下（100V使用时） | |||||||||||
| 耐噪声能力 | 1μs脉冲 2KV 1分钟 | |||||||||||
| 绝缘电阻 | DC500V 100MΩ以上 | |||||||||||
| 使用电源 | AC85V～264V 50/60Hz | |||||||||||
| 使用环境 | 温度+10℃～+40℃ 湿度75%RH以下（无结露） | |||||||||||
| 保存环境 | 温度-10℃～+ 60℃ | |||||||||||
绝缘劣化及离子迁移特性评价系统 产品图片
