DRK203-GB/T6672台式高精测厚仪可测薄膜箔片等-山东德瑞克仪器股份有限公司手机版

详细介绍

DRK203 GB/T6672台式高精测厚仪可测薄膜、箔片等,适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。产品关键词：测厚仪，薄膜测厚仪，机械接触式薄膜测厚仪。

【依据标准】

DRK203 GB/T6672台式高精测厚仪可测薄膜、箔片等,符合以下标准：GB/T 6672、GB/T 、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777

【技术参数】
1. 测量范围：0～3mm
2. 分辨率：μm 精度：1级
3. 测量速度：5次/min（可调）；测头移动速度：3mm/s（可调）

4. 接触面积：28mm (直径6mm）非标可定制

【产品特点】
1. 接触式测量
2. 测头自动升降
3. 自动测量模式
4. 数据实时显示、自动统计、打印
5. 显示值、平均值和统计偏差
6. 标准接触面积、标定压强
7. 标准量块标定测量参数

8. 数据分析功能