CCD光电性能测试系统
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◆ 产品名称:CCD光电性能测试系统
◆ 产品应用:主要用于线、面阵CCD光电相应性能测试。
◆ 产品介绍:本系统能够解决空间光学遥感器研制中光电成像器件选型、采取抗辐射加固设计及辐射校正设计及为光电成像
器件受辐照后性能变化的机理研究提供检测手段等诸多科学问题;同时能够在业界对光电成像器件抗辐射性能评价
的标准化和规范化起到积极推进作用。
◆ 产品主要测试功能:
1) 饱和输出电压(SV)
2) 饱和曝光量(SE);(A光源)
3) 光辐射响应度(灯光照明下的R);辐射照度响应度(A光源)
4) 相对光谱响应度RS;
5) 响应度均匀性(PRNU);
6) 响应度非线性度;
7) 电荷转移效率(CTE);
8) 光谱和白光传递函数(MTF);
9) 暗信号(DS);
10) 暗噪声(VNOISE);
11) 噪声等效曝光量(NEE);
12) 动态范围(DR);
13) 非线性度(NL);
14) 固态图片噪声(FPN)。
◆ 产品主要技术指标:
★ 工作光谱波段:380nm~1100nm;
★ 可测量CCD尺寸: 100mm×100mm;
★ 光源均匀性:优于1%;
★ 光源稳定性:优于0.5%/h;
★ 光谱分辨率:<2nm;
★ A/D量化等级:14bit;
★ 动态范围:80dB;
★ 测量值不确定度:5%;
★ 重复性误差:2%。