产品信息：

 直流I-V测试是表征微电子器件、工艺以及材料特性的基石。通常使用I-V特性分析，或者I-V曲线来决定器件的基本参数。 
 创谱仪器CPIV-SD半导体器件IV特性测试系统采用高精度，高漏电精度探针台、数字源表以及上位机软件组成；

产品特点：
◆CPZH系列探针台：4寸/6寸样品盘，漏电精度100fA，真空吸附，3微米探针移动精度，10微米针尖，2000万CCD成像，12寸显示器

◆吉士利数字源表：

                （双电极）单通道选用2450，电压量程：20mV-200V;电流量程：10nA-1A

                （三端器件等）双通道选用2602B，电压量程：100nV-40V;电流量程：0.1fA-10A

◆IV测试软件：

 可以实现：单阶恒流输出、单阶恒压输出、电阻测量、多阶恒流输出、多阶恒压输出、电流扫描、电压扫描、电流电压波形输出、温度测量-PT100铂电阻

 在测试的过程中，测量数据以图形和表格的方式实时显示，在切换到下一步骤后，显示数据界面重新进行初始化，同时系统信息窗口提示当前正在执行的步骤。

产品应用：
◆二极管特性的测量与分析
◆双极型晶体管BJT特性的测量与分析 
◆MOSFET场效应晶体管特性的测量与分析
◆MOS 器件的参数提取

实测曲线：
                    实测双端器件IV测试曲线

                                           实测三端器件IV测试曲线