半导体激光器所发出的激光具有一定的发散角，直接照射探测器，不能获得准确的功率值。CPLD150激光光谱功率测试系统，使半导体激光器发出的激光在积分球内形成均匀的光强分布，由光功率计和光纤光谱仪分别测量波长和功率，通过专业的软件输出测量结果。测量波长范围200-1100nm，分辨率0.1-1nm，功率范围：100nW-10W。

产品特点：

● 专用软件可以一键获取光谱及光功率数据

应用：

半导体激光器光谱和功率测量

产品组成：

1.积分球

创谱仪器提供的CPISA150积分球为全铝壳体，内球径为150mm。激光器处于积分球的顶部，与探测器和SAM905适配器成90°分布。光纤光谱仪通过光纤连接积分球SMA905适配器。

● 涂层损伤阈值10W/cm2

2.光功率计：

创谱仪器CPM07系列手持式光功率计，外形适中，配备了大尺寸的LCD段码显示屏，也可以通过USB2.0接口与计算机实时通讯，支持双路采集模式。创谱仪器也提供多种光电探测器选择，波长范围200nm-1100nm，功率范围100pW-10mW。

3.光纤光谱仪

创谱仪器提供的光纤光谱仪，体积只有名片大小，分辨率高达0.35nm-1nm，而66系列光谱仪分辨率高达0.1nm。两个系列的光谱仪都提供波长响应范围分为200nm-1000nm和300nm-1100nm的探测器供用户选择。

4.其余光电元器件，欢迎！