三丰表面粗糙度轮廓测量仪SV-C310/4100大幅提高的驱动速度(X 轴: 80 mm/s, Z2 轴立柱: 20mm/s) 进一步减少了总的测量时间。为了更长时间地保持直线度，三丰公司采用了抗老化且极耐磨的坚固的陶瓷导轨；驱动器 (X 轴) 和立柱 (Z2 轴) 均配备了高精度线形编码器 (其中Z2 轴上为ABS 型)。因此，在垂直方向对小孔连续自动测量、对较难定位部件的重复测量的重复精度得以提高。

三丰表面粗糙度轮廓测量仪SV-C310/4100特点

.          电动型支柱，触针式轮廓形状、表面粗糙度测量两用复合机。

.          轮廓形状测量用Z轴检出器搭载Holographic光学尺（SV-C4100）、反射型光学尺（SV-C3100）。表面粗度测量用Z轴检出装置，可对应ISO/新JIS。

.          检出器的滑动部为2段式，可提升检出器交换时的操作性。

.          资料处理软体，可做高难度的轮廓形状、粗度的评价解析。

.          资料处理装置的通讯系统使用RS-232C。

.          表面粗糙度测量直线度:±(0.05+0.001L)μm*专用于需要高精度测量的工件，L为驱动长度(mm)

.          符合JIS'82/'94/'01,ISO,ANSI,DIN,VDA等表面粗糙度的国际标准。

三丰表面粗糙度轮廓测量仪SV-C310/4100技术参数
轮廓测量
X轴测量范围:100mm或200mm　
分辨率:0.05μm　
检测方法:反射型线性编码器　
驱动速度:80mm/s、外加手动　
测量速度:0.02-5mm/s　
移动方向:向前／向后　
直线度:0.8μm/100mm,2μm/200mm*以X轴为水平方向上　
直线位碟±(1+0.01L)μm(SV-C3100S4,H4,W4)　
精度(20°C时)±(0.8+0.01L)μm(SV-C4100S4,H4,W4)；±(1+0.02L)μm(SV-C3100S8,H8,W8)；±(0.8+0.02L)μm (SV-C4100S8,H8,W8) *L为驱动长度(mm)　
倾角范围:±45°Z2轴(吨?　
垂直移动:300mm或500mm　
分辨率:1μm　
检测方法:ABSOLUTE线性编码器　
驱动速度:0-20mm/s、外加手动Z1轴(检测器)　
测量范围:±25mm　
分辨率:0.2μm(SV-C3100),　0.05μm(SV-C4100)　
检测方碟线性编码器(SV-C3100),　激光全息测微计(SV-C4100)　
直线位移:±(2+I4HI/100)μm(SV-C3100)精度(20°C时)±(0.8+I0.5HI/25)μm(SV-C4100)*H:基于水平位置的测量高度(mm)　测针上／下运作:弧形移动　
测针方向:向上／向下　
测碟30mN　
跟踪角度:向上:77°,向下:87°(使用配置的标准测头，依表面粗糙度而定)测针针尖半径:25μm、硬质合金

表面粗糙度测量
X1轴　测量范围:100mm或200mm　
分辨率:0.05μm　
检测方法:线性编码器　
驱动速度:80mm/s　
移动方向:向后　
直线度:(0.05+1.5L/1000)μm(S4,H4,W4型)0.5μm/200mm(S8,H8,W8型)Z2轴(立柱)　
垂直移动:300mm或500mm　
分辨率:1μm　
检测方法:ABSOLUTE线性编码器　
驱动速度:0-20mm/s、外加手动检测器　
范围／分辨率:800μm/0.01μm,80μm/0.001μm,8μm/0.0001μm(2400μm使用测头选件)　
检测方法:无轨／有轨测量　
测力:4mN或0.75mN(低测力型)　
测针针尖:金刚石、90o/5μmR(60o/2μmR:低测力型)　
导头曲率半径:40mm　
检测方法:差动电感式