TT230涡流测厚仪,氧化膜测厚仪,涂层测厚仪

TT230涡流测厚仪,氧化膜测厚仪,涂层测厚仪

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2023-04-17 17:38:39
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淄博森源电气有限公司

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产品简介

TT230涡流测厚仪,氧化膜测厚仪,涂层测厚仪

详细介绍


概述

TT230涡流测厚仪|氧化膜测厚仪是一种超小型测量仪,它能快速、无损伤、精密地进行非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量;可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域;该仪器体积小、测头与仪器一体化,特别适用于工程现场测量。

TT230涂层测厚仪符合以下标准:

GB/T 4957-1985 涡流方法

JJG 818-93 《电涡流式测厚仪》

JB/T8393-1996磁性和涡流覆层测厚仪

TT230涂层测厚仪功能特点

采用了涡流测厚法,可无损伤地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度(如铜、铝、锌、锡等基底上的珐琅、橡胶、油漆镀层)

可进行零点校准及二点校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正

具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE

具有两种工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)

具有删除功能:对测量中出现的单个可疑数据进行删除,也可删除存贮区内的所有数据

设有五个统计量:平均值、嘴大值(MAX)、嘴小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差

具有米、英制转换功能

操作过程有蜂鸣声提示

具有错误提示功能

具有自动关机功能

TT230涂层测厚仪技术参数

测头类型:N

测量原理:电涡流

测量范围: 0-1250um | 0-40um(铜上镀铬)

低限分辨力:1µm(10um以下为0.1um)

探头连接方式:一体化

示值误差: 一点校准(um):±[3%H+1.5];两点校准(um):±[1%~3%H+1.5]

测量条件: 嘴小曲率半径(mm):凸3、凹10;基体嘴小面积的直径(mm):ф5嘴小临界厚度(mm)0.3

温湿度:0~4020%RH90%RH

统计功能:平均值、嘴大值(MAX)、嘴小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差

工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)

测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE

存储能力:500个测量值

关机方式:自动

电源:二节1.5V干电池

重量:150g

TT230涂层测厚仪基本配置

主机

铝基体

标准片一套

使用说明书


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