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Park Systems 帕克原子力显微镜XE7
面议产品特性
采用白光共聚焦色差技术，可获得纳米级的分辨率
测量具有非破坏性，测量速度快，精.确度高
测量范围广，可测透明、金属材料，半透明、高漫反射，低反射率、抛光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿…)；
尤其适合测量高坡度高曲折度的材料表面
不受样品反射率的影响
不受环境光的影响
测量简单，样品无需特殊处理
Z方向,测量范围大：为27mm
主要技术参数
扫描范围：150mm×150mm(*大可选600mm*600mm)
扫描步长：0.1μm
扫描速度：20mm/s
Z方向测量范围：27mm
方向测量分辨率：2nm
产品应用
MEMS、半导体材料、太阳能电池、医疗工程、制药、生物材料，光学元件、陶瓷和*材料的研发。
