真空衰减法包装检漏仪 无损式包装完整性测试仪 无损密封检测仪

真空衰减法包装检漏仪 无损式包装完整性测试仪 无损密封检测仪

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具体成交价以合同协议为准
2023-08-15 19:49:15
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济南兰光机电技术有限公司

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产品简介

真空衰减法包装检漏仪 无损式包装完整性测试仪 无损密封检测仪——CLASSIC 661真空衰减法包装检漏仪业适用于西林瓶、预充针、卡氏瓶、安瓿瓶、输液瓶、等各种制药包装微量泄漏检测、密闭容器完整性检漏。亦可进行袋装、罐装、瓶装等食品包装微量泄漏检测、密闭容器完整性检漏。

详细介绍

真空衰减法密封检漏仪 无损密封测定仪 包装衰减真空测试仪——CLASSIC 661真空衰减法包装检漏仪业适用于西林瓶、预充针、卡氏瓶、安瓿瓶、输液瓶、等各种制药包装微量泄漏检测、密闭容器完整性检漏。亦可进行袋装、罐装、瓶装等食品包装微量泄漏检测、密闭容器完整性检漏。

真空衰减法密封检漏仪 无损密封测定仪 包装衰减真空测试仪业技术:
1、第二代真空衰减法技术,精度、自动化升: 
创新的正压法与真空法技术,一机两用,解决了真空法包装内容物对微小孔径堵塞的影响
采用真空、压力、微压差多传感器法原理,进行无损检测
精密的压力测试系统,测试精度大幅提升
采用进口气动元件,进口微压差、压力传感器,性能稳定可靠
采用12寸触控嵌入式系统,具有超高数据存储及稳定性
采用内置进口高精度微型流量计,自动设备功能,无需人工调节,方便验证仪器线性,且无需拆机就可以进行计量与验证
仪器内置进口真空泵,满足高真空处理的测试需求,免维护,避免污染生产现场
主机高品质不锈钢外壳,符合制药、食品对于生产现场的要求
测试腔自动夹紧,高效且密封性好
2、工业嵌入式计算机系统平台,安全易用:
一体化系统设计,仪器与软件合二为一,无需外接计算机
主机可建立不同试样的测试方案,且可存储五年以上测试数据
真空、测试和渗入时间可调,存储于数据库中,保证测试条件的一致性
试验曲线实时显示,数据智能统计,方便快速查看检测结果
兰光数据安全性设计,测试数据与电脑分离,避免由计算机病毒等引起的系统故障造成数据丢失
符合中国GMP对数据可追溯性的要求,满足医药行业需要,多权限管理,用户可自由配置权限(可选)
兰光DataShieldTM数据盾系统,方便数据集中管理和对接信息系统(可选)
符合CFR21Part11标准,获得FDA认可的电子记录、电子签名(可选)
系统内嵌USB接口和网口,方便系统的外部接入和数据传输

测试原理:
主机连接一个真空衰减腔,将试样放入此测试腔内抽真空,试样内外有压差,气体通过漏孔进入真空衰减腔和主机,主机利用压力传感器和差压传感器监测测试腔内的真空度变化,通过真空度变化量来判断试样是否合格。压力法与之相反。

测试标准:
该仪器参照标准:ASTM F2338

真空衰减法密封检漏仪 无损密封测定仪 包装衰减真空测试仪试验流程:
将试样放入测试腔体,根据设定的真空度对测试腔进行抽真空。在抽真空阶段,如果在设定的抽真空时间内,实际真空度无法达到参考真空度,那么包装有大漏;
在保压阶段,如果在设定的保压时间内,实际真空度无法达到参考真空度,那么包装有中漏;
在测试阶段,如果实际真空衰減率值大于参考真空衰減率值,那么包装有微漏;

测试应用:
基础应用:
适用于玻璃瓶、管、罐、盒的整体密封性试验
适用于塑料瓶、管、罐、盒的整体密封性试验
适用于金属材料瓶、管、罐、盒的整体密封性试验
适用于纸塑复合袋、盒类材料的密封性试验
扩展应用:
适用于笔芯密封试验
适用于电子元器件的密封性试验
适用于科研的密封性试验

真空衰减法密封检漏仪 无损密封测定仪 包装衰减真空测试仪技术指标:
真空度:0~-101KPa(标准大气压下)
真空传感器精度:±0.1%FS(±1Pa) 
真空分辨率:1Pa
测试下限:2 um(特殊下限需求需定制)
测试腔:尺寸、种类根据试样特殊定制
外壳材质:不锈钢
真空方式:真空泵
外形尺寸:主机:368mm(L)×558mm(W)×304mm(H)
电源:AC 220V 50Hz / AC 120V 60Hz
净重:主机:26kg

产品配置:
标准配置:主机、内置工业触屏、内置真空泵、内置流量计、根据试样尺寸定制的测试腔

更新时间:2022/10/14 11:23:34

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