Quasor II EBSD 系统特点：

实现 EBSD

• 采集速率高达每秒600帧，索引像素 > 99%
• 信噪比是其他 CMOS 相机的三倍
• 与 Pathfinder X 射线微量分析集成，用于同时进行 EDS/WDS 和 EBSD 数据采集
• 一次测量即可提供样品的结构和化学信息

• 通过扣除或分割去除背景
• 图像裁剪
• 采用 FFT 或抛物面的平场处理
• 可选择检测多达30条条带
• 按行长度或 Hough 背景进行图像归一化
• • 对清晰、平衡或平滑图像进行 Hough 过滤
  • Hough 裁剪直径调整以适应屏幕图案质量
  • Hough 变换显示屏具有可编辑行选择
  • 可选择索引多达30行
  • 允许从索引方案中删除高达 25% 的条带
  • 按条带强度对索引自动排序
  • 从预先建立的超过10,000种晶体的库中选择晶体
  • 保存衍射图的再处理
  • 图谱中心校准检索
  • 能够保存衍射图以备后续再分析

设计用于冶金学

• 开发基于 SEM 的质量控制和故障分析方法
• 加热和冷却后进行相鉴定和转化分析
• 确定相和粒度
• 焊接后监测热影响区
• 对金属进行预测性断裂分析
• 验证添加剂生产工艺