涂层测厚仪MiniTest2500/4500

涂层测厚仪MiniTest2500/4500

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具体成交价以合同协议为准
2024-04-22 11:53:23
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北京时代锐达科技有限公司

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产品简介

德国EPK(Elektrophysik)公司涂层测厚仪MiniTest2500/4500作为MiniTest1100-4100系列的升级产品，为涂层测量领域的广泛任务提供了多种探头、不同的校准方法和评估选项。MiniTest 2500/4500涂层测厚仪具有IP65防护等级， 人机工程学设计，高对比度显示屏和背光键盘，以及其他有用的功能。可存储多达200万个测量值，通过USB接口向计算机传输数据。......

详细介绍

功能介绍

MiniTest2500

MiniTest4500

可存储的读数总数
*大批组数量
具有独立校准值的应用程序存储数量
具有相同校准值的批组每个应用程序存储的批组数量

2000000
1
-
-

2000000
超过9500
99
99

统计功能(每批组)

kvar, n, max., min.

kvar, n, max., min., CP, CPK

校准

-

如果无基材使用，则通过涂层进行校准(CTC)

补偿功能

-

用于从读数中加/减一个恒定值

极限设置(用户自定义)

-

超出限制时的光信号和声音信号报警

测量单位

μm, mm, cm, mils, inch

接口
可升级接口

USB
-

USB和蓝牙 4.0
报警输出，脚踏开关触发，RS 232接口

电源/每次更换电池的工作时间

3 x AA (LR06) 电池和USB/大约为150小时(不使用背光)

规范和标准

DIN EN ISO1461, 2064, 2178, 2360, 2808, 3882；ISO 19840；
ASTM B244,B499, D7091, E376

显示

53 x 46 mm，带背光

操作温度/存储温度

10 ~60°C / –20 ~ 70°C

尺寸/重量

53mm x 89mm x 36mm/ 320g(仪器包括电池)，橡胶保护套90g

防护等级

IP 65

可选探头

所有探头都可配合任一主机使用。在选择*适用的探头时需要考虑覆层厚度，基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。

探头

量程

低端
分辨率

误差

*小曲率
半径(凸/凹)

*小测量
区域直径

*小基
体厚度

F05

0-500μm

0.1μm

±(1%+0.7μm)

0.75/5mm

3mm

0.1mm

F3

0-3000μm

0.2μm

±(1%+1μm)

1.5/10mm

5mm

0.5mm

F10

0-10mm

5μm

±(1%+10μm)

5/16mm

20mm

1mm

F20

0-20mm

10μm

±(1%+20μm)

10/30mm

40mm

2mm

F50

0-50mm

10μm

±(3%+50μm)

50/200mm

300mm

2mm

N02

0-200μm

0.1μm

±(1%+0.5μm)

1/5mm

2mm

50μm

N.08Cr

0-80μm

0.1μm

±(1%+1μm)

2.5mm

2mm

100μm

N10

0-10mm

10μm

±(1%+25μm)

25/100mm

50mm

50μm

N20

0-20mm

10μm

±(1%+50μm)

25/100mm

70mm

50μm

N100

0-100mm

100μm

±(1%+0.3mm)

100mm/平面

200mm

50μm

FN1.6

0-1600μm

0.1μm

±(1%+1μm)

1.5/10mm

5mm

F：0.5mm/N：50μm

FN1.6/90

0-1600μm

0.1μm

±(1%+1μm)

平面/6mm

5mm

F：0.5mm/N：50μm

F2HT

0-2000μm

0.2μm

±(1%+1μm)

1.5/10mm

5mm

0.5mm

注：

F型探头：测量钢铁基体上的非磁性覆层
N型探头：测量有色金属基体上的绝缘覆层
FN两用探头：同时具备F型和N性探头的功能
FN1.6/90为直角探头，用于管内测量
N.08Cr用于测量铜上镀铬。
F2HT为高温探头，有两款，允许在高达250°C或350° C表面温度的热表面上进行涂层厚度测量

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