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TSK硅片探针台UF3000EX-e
利用XY阶段的协同效果而达成高生产量,并且借由高速晶圆处理和驱动单元创造高速和优良的无声性 参考价面议东京精密|粗糙度轮廓仪S CREST
■高稳定倍光路型激光干涉传感器●应用东京精密的要素技术之一的光纤激光干涉测长系统,开发出分辨率0.31nm的高稳定倍光路型激光干涉传感器并搭载在产品上 参考价面议X射线荧光分析仪EA1000AIII
通过将可选项的精度管理型软件进一步升级,并使之成为标准配备,实现了低价格化 参考价面议X射线荧光分析仪 EA1000VX
对应环境限制物质管理、可快速且简单测量有害物质的X射线荧光分析仪 参考价面议东京精密|粗糙度仪 S1400G(台阶仪)
■谁都可以轻松测量的AI功能(已获得)●即使事先不设定测量条件,测量机也可以自动进行选择(粗糙度测量) 参考价面议