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蓝宝石偏光应力仪:PKS-250M
产品介绍:进口偏光应力仪可对透明及弱色材料的双折射率进行检测,并通过Senarmont补偿法精确计算出光程误差不超过10nm的双折射率的值 参考价面议硅片缺陷观测仪系统软件
问题背景:■30公斤 参考价面议硅片电池片自动测试架:HS-ATS-100
产品介绍:HS-ATS-100硅片电池片自动测试架是使用单板机可编程控制,步进电机驱动,丝杆滑动,定位精确,操作方便,可随意调节探头的下降点,上升点固定,探头在点的停留时间范围广(从0-20秒) 参考价面议硅片表面线痕深度测试仪:HS-SRT-301
硅片表面线痕深度测试仪(HS-SRT-301)可用于测试硅片的表面线痕深度,具有便于携带、触摸屏便捷操作、液晶显示、节能等优点,同时内置打印机和充电电池,所有设计均符合JIS,DIN,ISO,ANSI等标准 参考价面议硅片缺陷观测仪:HS-WDI
产品介绍:硅片缺陷观测仪(HS-WDI),于对硅片的缺陷进行观察,效果非常明显,包括肉眼无法观测的位错、层错、划痕、崩边等 参考价面议半自动无接触硅片测试仪:HS-NCS-200SA
半自动无接触硅片测试仪(HS-NCS-200SA型)可以测量硅片厚度、总厚度变化TTV、弯曲度、翘曲度、单点和总体平整度,该仪器适用于Si,GaAs,InP,Ge等几乎所有的材料,强大的软件功能能够在几秒内测试硅片的厚度、总厚度变化TTV、弯曲度、翘曲度、单点和总体平整度,所有的设计都符合ASTM(美国材料实验协会)和Semi标准,确保与其他工艺仪器的兼容与统一 参考价面议硅料硼磷含量测试仪:HS-ICP-MS
产品介绍:硅料磷、硼杂质含量测试仪,其主要用途是对多晶硅料的包括磷硼含量在内的超过75个元素进行分析 参考价面议激光椭偏仪:PH-LE
多角度激光椭偏仪(PH-LE型)专门针对晶硅太阳能电池绒面上的减反膜测量,能够测量薄膜厚度及其光学常数,使用632.8nm波长氦氖激光器,具有的精确度和准确度 参考价面议光谱椭偏仪:PH-SE
光谱椭偏仪(PH-SE型)针对太阳能电池应用,可测量多晶硅/单晶硅绒面表面单层(二层或多层)减反射膜、和玻璃/有机基底上的薄膜太阳能电池 参考价面议全自动光谱椭偏仪:PH-ASE
全自动光谱椭偏仪(PH-ASE型)把使用者从烦琐的手动调节样品高度和倾斜度工作中解放出来,样品对准是为了保证椭偏仪测量的可重复性和精确性 参考价面议