硅材料红外探伤仪

红外探伤测试仪

NIR-01-3D多晶硅料检测红外探测仪

HS-WDI-2000系列研究级数码3D金相显微镜

RA2000圆度测试仪

HS-T50无接触厚度TTV电阻率综合测试系统

HS-CA2半自动硅片厚度TTV测试仪

杂质含量测试仪（元素含量分析）