X射线荧光光谱仪

UTX650X射线荧光光谱仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2018-01-10 18:03:43
1955
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产品简介

UTX650是一款经济、实用、操作简便的X射线荧光光谱仪

详细介绍


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北京合悦达科技有限公司

:潘      

bj8500


UTX650X射线荧光光谱仪产品特点 

1、从KU的快速元素分析、金属镀层厚度检测

2、检测灵敏度0.01%*;镀层0.02um40um

3、测量时间短,每个测量只需10-60

415-20 倍彩色CCD系统用于样品图像观察

5、有多种形状和多种规格的准直器可供选用

6、大窗口正比计数器,提高测量稳定性

7、机械结构简单,可靠

8FP基本算法软件

9、灵活的应用分析软件

10、仪器安装简单、快速


UTX650X射线荧光光谱仪

UTX650是一款经济、实用、操作简便的X射线荧光光谱仪,适用于:

五金、接插件、电气连接器电镀,PCB电镀,塑料、ABS、镁铝合金电镀;含量普通的合金材料分析。镀液分析。

 

镀层厚度检测

五金、接插件、电气连接器电镀AuAgSnNiCuZnCrNiPSnPb合金、SnCu合金、ZnNi合金、AuPdNi合金等;

 

PCB电镀AuAgCuNiNiPSnPb合金等

 

塑料、ABS、镁铝合金电镀AuAgSnNiCuZnCrNiP

 

合金材料分析

不锈钢中的FeCrNiMo等成分

 

黄铜中的CuZnPb等成分

 

磷铜中的CuZnSnPb等成分

 

焊锡中的SnPb等成分

 

镀液分析

电镀液中AuAgCuNiCrZnSn的主盐的浓度


UTX650技术指标

1、产品执行标准:DIN50987ISO3497ASTN.D568

2、产品参数:

测定原理

能量色散型X射线荧光分析法

测定对象

固体、液体、粉状

测量功能

单镀层、合金镀层、多镀层测厚、zui多可测5层;

元素分析材料成份分析

镀液分析电镀药水主盐成份分析

测量极限

镀层厚度:0.02um,元素分析:100ppm

厚度测量范围

0.02-40 um(WAuPb)10μm(CuZnNiCrSn)40um

厚度测量误差

*层小于±5%,第二层小于±10%,第三层小于±15%

元素分析测量范围

可测元素K19-U92

测试时间

测厚:10-60s,元素分析:10-60s

X射线发生部分

X光管产地及品牌

美国(OXFORD)

X射线管靶材

W靶、RhMoAgCr靶材可选

X射线管窗口

铍窗

电气参数

50W4-50kV0-1000uA

冷确方式

硅脂冷却

X射线照射方式

↓X射线从上向下照

照射面积

zui小的光斑φ0.1mm

使用寿命

15000-20000h

探测器

探测器产地及品牌

美国(LND

制冷方式

电制冷(-1900C)

分辨率

Mn的半峰宽760eV

探测窗口

铍窗、窗口面积:400mm2

高压电源

高压包产地及品牌

美国(SPELLMAN)

输入电压

24VDC±10%

输出电压

0-50kV0-2.0mA,输出精度0.01%

备注

有自动软件侦测功能

光路系统

准直器系统

单一准直器φ0.1mm

对焦系统

激光镭射对焦

滤光器

多种滤光器(NiCuMoAlTi)

样品观察系统

300万象素高清CCD摄像头,20倍光学变焦。

样品室

样品室内部空间(mm

(宽××深):450×160×400mm

样品台尺寸

(宽×深):250×275mm

样品台承载重量

≤5kg

试验样品zui大尺寸

××深:440×150×390mm

样品台控制方式

手动样品台

工作台移动技术数据

X=200±5Y=200±5Z=160±5mm

数据处理系统

控制计算机

联想品牌机M71501G内存,160G硬盘

显示器

联想17LCD显示器

报告结果

WordPDF格式

软件

操作系统:WindowsXPOEM简体中文版

镀层测厚软件、元素分析软件

软件语言

简体中文、繁体中文、英文、其它

仪器包装参数

设备主体尺寸(mm

××深:W580×H600×D715mm

主体重量

60kg

使用环境

工作环境

温度15-250C,湿度40-70%RH

电源系统

单相220V±10%,工作电压在充许范围内

其它

1.      不要靠近产生强磁场,电场,高频等装置

2.      减少振动

3.      粉尘少,湿度低,无腐蚀性气体

4.      日光不能直射

5.      作为地震的对策,要考虑装置的固定

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