电子元器件筛选,失效分析 材料检测服务

电子元器件筛选,失效分析 材料检测服务

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2024-11-06 12:55:45
735
属性:
服务区域:全国;服务资质:CNAS认可;服务周期:常规5-7个工作日;加急服务:可提供;发票:可提供;报告类型:中英文电子/纸质报告;
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产品属性
服务区域
全国
服务资质
CNAS认可
服务周期
常规5-7个工作日
加急服务
可提供
发票
可提供
报告类型
中英文电子/纸质报告
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广电计量检测集团股份有限公司

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产品简介

电子元器件筛选,失效分析:广电计量可满足各等级元器件筛选方案设计和检测需求,提供电子元器件测试、评估、质量保证的成套方案,帮助企业及时发现和剔除有缺陷、易发生早期失效的元器件,提高电子元器件的使用可靠性,保障和支撑电子装备可靠性提升。

详细介绍

服务范围

电子元器件筛选,失效分析半导体集成电路:时基电路、总线收发器、缓冲器、驱动器、电平转换器、 门器件、触发器、LVDS线收发器、运算放大器、电压调整器、电压⽐较器、 电源类芯片(稳压器、开关电源转换器、电源监控器、电源管理等)、数模转换器(A/D、D/A、SRD)、存储器、可编程逻辑器件、单片机、微处理器、 控制器等;

半导体分立器件:二极管、三极管、场效应管、达林顿阵列、半导体光电子器件等;

电阻器;电容器;磁珠;电感器;变压器;晶体振荡器;晶体谐振器;继电器;电连接器;开关及⾯板元件;滤波器;电源模块等。

检测标准

●GJB7243-2011J用电子元器件筛选技术要求

●GJB128A-1997半导体分立器件试验方法

●GJB360A-1996电子及电气元件试验方法

●GJB548B-2005微电子器件试验方法和程序

●QJ10003—2008进口元器件筛选指南

●MIL-STD-750D半导体分立器件试验方法

●MIL-STD-883G微电子器件试验方法和程序

检测项目

●外观检查;

●电性能测试:常温测试/高温测试/低温测试;

●环境/机械应力检测:振动、低温贮存、高温贮存、温度循环、温度冲击、恒定加速度或跌落、密封(粗检漏、细检漏 )、粒子碰撞噪声检测(PIND);

●高温动态老炼、高温反偏老炼、功率老炼、恒流老炼、间歇寿命老炼;

●芯片超声检测;

●X射线照相。

相关资质

CNAS

服务背景

电子元器件筛选,失效分析电子元器件是装备的关键原材料,元器件筛选是提升电子装备可靠性的关键手段,严格执行型号的三级筛选管理规定,从源头上保证装备的可靠性和质量一致性是电子装备批产的关键。

我们的优势

广电计量可满足各等级元器件筛选方案设计和检测需求,提供电子元器件测试、评估、质量保证的成套方案,帮助企业及时发现和剔除有缺陷、易发生早期失效的元器件,提高电子元器件的使用可靠性,保障和支撑电子装备可靠性提升。


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