OKL-CPM/PDS-500型日本oklabCPM/PDS综合测量装置干扰测量
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¥52000日本oklabCPM/PDS综合测量装置干扰测量OKL-CPM/PDS-500型
日本oklabCPM/PDS综合测量装置干扰测量OKL-CPM/PDS-500型
恒定光电流法 (CPM) 和光热偏转光谱法 (PDS) 可用于子带隙光吸收系数测量。
由于可以计算缺陷密度,因此可以应用于太阳能电池薄膜的性能改进和开发
使用我们的 CPM 测量方法,可以抑制干扰并计算准确的缺陷密度。
PDS 可以测量高达 0.4[eV] 的长波长
集成 CPM 和 PDS 的紧凑型经济型
测量是全自动的,没有麻烦
我们的 CPM/PDS 组合测量设备型号 OKL-CPM/PDS-500 结构紧凑,因此可以用一台设备测量 CPM 和 PDS。我们CPM测量的特点是采用透射光测量法,采用了排除胶片干扰影响的方法。
因此,可以计算出准确的缺陷密度。此外,PDS除了可见光之外,还有红外光谱光栅,因此可以在长波长范围内进行测量。安装样品池的工作台配备了振动隔离功能,因为在测量过程中不需要振动。所有测量都是计算机控制的自动测量。
使用我们的 CPM 测量方法,可以抑制干扰并计算准确的缺陷密度。
PDS 可以测量高达 0.4[eV] 的长波长
集成 CPM 和 PDS 的紧凑型经济型
测量是全自动的,没有麻烦
我们的 CPM/PDS 组合测量设备型号 OKL-CPM/PDS-500 结构紧凑,因此可以用一台设备测量 CPM 和 PDS。我们CPM测量的特点是采用透射光测量法,采用了排除胶片干扰影响的方法。
因此,可以计算出准确的缺陷密度。此外,PDS除了可见光之外,还有红外光谱光栅,因此可以在长波长范围内进行测量。安装样品池的工作台配备了振动隔离功能,因为在测量过程中不需要振动。所有测量都是计算机控制的自动测量。