日本oklabCPM/PDS综合测量装置干扰测量

OKL-CPM/PDS-500型日本oklabCPM/PDS综合测量装置干扰测量

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980000 1000

具体成交价以合同协议为准
2023-04-06 15:24:22
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深圳九州工业品有限公司

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产品简介

日本oklabCPM/PDS综合测量装置干扰测量OKL-CPM/PDS-500型
恒定光电流法 (CPM) 和光热偏转光谱法 (PDS) 可用于子带隙光吸收系数测量。
由于可以计算缺陷密度,因此可以应用于太阳能电池薄膜的性能改进和开发

详细介绍

日本oklabCPM/PDS综合测量装置干扰测量OKL-CPM/PDS-500型

日本oklabCPM/PDS综合测量装置干扰测量OKL-CPM/PDS-500型

恒定光电流法 (CPM) 和光热偏转光谱法 (PDS) 可用于子带隙光吸收系数测量。

由于可以计算缺陷密度,因此可以应用于太阳能电池薄膜的性能改进和开发

特征


细节

我们的 CPM/PDS 组合测量设备型号 OKL-CPM/PDS-500 结构紧凑,因此可以用一台设备测量 CPM 和 PDS。我们CPM测量的特点是采用透射光测量法,采用了排除胶片干扰影响的方法。

因此,可以计算出准确的缺陷密度。此外,PDS除了可见光之外,还有红外光谱光栅,因此可以在长波长范围内进行测量。安装样品池的工作台配备了振动隔离功能,因为在测量过程中不需要振动。所有测量都是计算机控制的自动测量。

特征


细节

我们的 CPM/PDS 组合测量设备型号 OKL-CPM/PDS-500 结构紧凑,因此可以用一台设备测量 CPM 和 PDS。我们CPM测量的特点是采用透射光测量法,采用了排除胶片干扰影响的方法。

因此,可以计算出准确的缺陷密度。此外,PDS除了可见光之外,还有红外光谱光栅,因此可以在长波长范围内进行测量。安装样品池的工作台配备了振动隔离功能,因为在测量过程中不需要振动。所有测量都是计算机控制的自动测量。


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