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emic磁场测量的高斯计 磁粉探伤 测磁通密度GMS-103的介绍
emic磁场测量的高斯计 磁粉探伤 测磁通密度GMS-103的介绍
该表面磁场测量仪是用于“JIS Z 2320 磁粉探伤”的高斯计。
由于可以在一次测量中测量测试对象的表面磁通密度(目标表面磁场估计),
有助于缩短测试时间和提高准确性。
●外推磁场估计(配备霍尔元件2ch)
●真有效值交流测量
●电池驱动/手持型
emic磁场测量的高斯计 磁粉探伤 测磁通密度GMS-103的介绍
黑光系列
功耗约为传统的1/7。紫外线波长
采用355-375纳米(nm)LED,
最大中心强度约为 13mW/cm2,因此即使是很小的划痕也能应对。
此外,还安装了脉冲模式以优化图像处理型磁粉探伤。
手持型
与手持式磁粉探伤仪结合使用。
只需将其连接到插座即可使用。
重量轻,不易疲劳。
黑光系列
功耗约为传统的1/7。紫外波长波长为
采用355-375纳米(nm)LED,
最大中心强度约为 13mW/cm2,因此即使是很小的划痕也能应对。
此外,还安装了脉冲模式以优化图像处理型磁粉探伤。
用于较长的长度,例如圆钢棒和管道
一盏悬垂的黑灯。无风扇且安静。
由于照射范围广,可用于长工件。
具有紫外线强度调节量。