GMS-103-emic磁场测量的高斯计磁粉探伤测磁通密度探伤机-深圳九州工业品有限公司手机版

详细介绍

emic磁场测量的高斯计磁粉探伤测磁通密度GMS-103的介绍

该表面磁场测量仪是用于“JIS Z 2320 磁粉探伤”的高斯计。

由于可以在一次测量中测量测试对象的表面磁通密度（目标表面磁场估计），

有助于缩短测试时间和提高准确性。

●外推磁场估计（配备霍尔元件2ch）

●真有效值交流测量

●电池驱动/手持型

emic磁场测量的高斯计磁粉探伤测磁通密度GMS-103的介绍

黑光系列

功耗约为传统的1/7。紫外线波长

采用355-375纳米（nm）LED，

最大中心强度约为 13mW/cm2，因此即使是很小的划痕也能应对。

此外，还安装了脉冲模式以优化图像处理型磁粉探伤。

手持型

与手持式磁粉探伤仪结合使用。

只需将其连接到插座即可使用。

重量轻，不易疲劳。

黑光系列

功耗约为传统的1/7。紫外波长波长为

采用355-375纳米（nm）LED，

最大中心强度约为 13mW/cm2，因此即使是很小的划痕也能应对。

此外，还安装了脉冲模式以优化图像处理型磁粉探伤。

用于较长的长度，例如圆钢棒和管道

一盏悬垂的黑灯。无风扇且安静。

由于照射范围广，可用于长工件。

具有紫外线强度调节量。