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instrumentsystems取样式光度计
¥120000sibata粉尘浓度计
¥80000toadkk浊度计
¥660000tokisangyo粘度计
¥18000otsukael积分光度计
¥220000德国polytec 显微式激光测振仪
¥3000德国polytec 扫描式激光测振仪
¥3000日本nippondenshoku手持式分光光度计
¥3000日本nippondenshoku手持式色差计
¥3000日本nippondenshoku小型色差计/白度计
¥3000日本nippondenshoku色度计
¥3000日本nippondenshoku分光色度计
¥3000emic紫外线强度计 磁粉探伤 测量高亮度 探伤机UV-D3的介绍
emic紫外线强度计 磁粉探伤 测量高亮度 探伤机UV-D3的介绍
用于控制紫外线强度。
用于控制黑光的紫外线强度。
波长为355-375纳米(nm)
具有峰值保持功能。
易于阅读的数字显示。
该表面磁场测量仪是用于“JIS Z 2320 磁粉探伤”的高斯计。
由于可以在一次测量中测量测试对象的表面磁通密度(目标表面磁场估计),
有助于缩短测试时间和提高准确性。
●外推磁场估计(配备霍尔元件2ch)
●真有效值交流测量
●电池驱动/手持型
emic磁场测量的高斯计 磁粉探伤 测磁通密度GMS-103的介绍
黑光系列
功耗约为传统的1/7。紫外线波长
采用355-375纳米(nm)LED,
最大中心强度约为 13mW/cm2,因此即使是很小的划痕也能应对。
此外,还安装了脉冲模式以优化图像处理型磁粉探伤。
手持型
与手持式磁粉探伤仪结合使用。
只需将其连接到插座即可使用。
重量轻