internationallight光测量探测器 照度计 光学探测仪ILT的介绍

internationallight光测量探测器 照度计 光学探测仪ILT的介绍

5.8 mm² 有效面积硅探测器，带内置过滤器，位于棒式探测器外壳中。尺寸：43 x 19 x 15 毫米。未校准。

ILT 检测器设计用于发射皮安到毫安范围内的低水平电流，然后在与 ILT 照度计一起使用时转换为校准光学单位，例如勒克斯、W、W/cm2 等。检测器组件通常包括传感器、过滤器、光学器件和校准器

勒克斯校准探测器组件示例：“SED033/Y/W”包括“SED033”33mm² 硅光电二极管探测器、“Y”适光校正滤光片和“W”漫射器以及校准。
 

SED 和SPM型光学检测器外壳由黑色阳极氧化铝制成，带有过滤器内螺纹 、一个三脚架和两个端部安装  。只有这些外壳允许过滤器选择/交换和水下修改

XSD 型光学探测器的 直径为 15 x 42 mm。带有用于安装的 8-32 螺纹螺纹孔的外壳。5.8 mm² 有源区硅探测器，内置 CIE VIS 响应滤波器，位于棒式探测器外壳中。尺寸：43 x 19 x 15 毫米。未校准。5.8 mm² 有效面积硅探测器，带内置过滤器，位于棒式探测器外壳中。尺寸：43 x 19 x 15 毫米。未校准。