otsukael膜厚监测仪 膜厚测量仪FE-300的介绍

otsukael膜厚监测仪 膜厚测量仪FE-300的介绍

这是一款小型、低成本的膜厚测量仪，可通过高精度光学干涉测量法实现易于操作的膜厚测量。
我们采用一体式外壳，将必要的设备存储在主机中，实现了稳定的数据采集

• 支持从薄到厚的广泛薄膜厚度

• 使用反射光谱的膜厚度分析

• 紧凑、低成本、非接触、无损、高精度测量

• 简单的条件设置和测量操作！任何人都可以轻松测量薄膜厚度

• 使用峰谷法、频率分析法、非线性最小二乘法、化法等，可以进行广泛的膜厚测量。

• 光学常数分析（n：折射率，k：消光系数）可以通过非线性最小二乘法的膜厚分析算法进行。

• 绝对反射率测量

• 薄膜厚度分析（10层）

• 光学常数分析（n：折射率，k：消光系数）

• 功能性薄膜、塑料
  透明导电薄膜（ITO、银纳米线）、相位差膜、偏光膜、AR膜、PET、PEN、TAC、PP、PC、PE、PVA、胶粘剂、粘合剂、保护膜、hard Coat、抗指纹代理等

• 半导体
  化合物半导体、Si、氧化膜、氮化膜、Resist、SiC、GaAs、GaN、InP、InGaAs、SOI、Sapphire等。

• 表面处理
  DLC涂层、防锈剂、防雾剂等。

• 光学材料
  滤光片、增透膜等

• FPD
  LCD（CF、ITO、LC、PI）、OLED（有机薄膜、密封胶）等

• 其他
  HDD、磁带、建材等