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instrumentsystems取样式光度计
¥120000sibata粉尘浓度计
¥80000toadkk浊度计
¥660000tokisangyo粘度计
¥18000otsukael积分光度计
¥220000德国polytec 显微式激光测振仪
¥3000德国polytec 扫描式激光测振仪
¥3000日本nippondenshoku手持式分光光度计
¥3000日本nippondenshoku手持式色差计
¥3000日本nippondenshoku小型色差计/白度计
¥3000日本nippondenshoku色度计
¥3000日本nippondenshoku分光色度计
¥3000napson探头测量仪 电阻计 热电阻 电阻测量机WS-3000的介绍
napson探头测量仪 电阻计 热电阻 电阻测量机WS-3000的介绍
可安装 4 种探头的探头更换机构无需为每个测量样品更换探头。
通过双模式高精度测量高达 1mm 的边缘
高速测量带来的成本优势
FOUP 装载口,兼容 GEM/SECS
半导体及太阳能电池材料(硅、多晶硅、SiC等)
导电薄膜相关(金属、ITO等)
扩散样品
硅基外延、离子注入样品
其他(*请联系我们)
12英寸
(选项;200mm组合使用)
[薄层电阻] 1m 至 10MΩ/sq
4探针半自动玻璃基板薄膜测量仪
XY轴机构台
面内多点测量,均匀间距或随机间距设置选择,配备2-D/3-D绘图软件
半导体及太阳能电池材料(硅、多晶硅、SiC等)
新材料/功能材料(碳纳米管、DLC、石墨烯、银纳米线等)
导电薄膜相关(金属、ITO等)
扩散样品硅基薄膜(LTPS等)、IGZO
硅基外延、离子注入样品
化合物半导体(GaAs、Epi、GaN、Epi、InP、Ga等)
其他(*请联系我们)
最大300×300mm(可选;最大500×500mm)
[电阻率(比电阻)] 1 m 至 200 Ω cm
[薄层电阻] 1 m 至 1,000 k Ω/sq(选项;高达 10 M Ω/sq
具有大电阻测量范围的 4 探头测量仪
用于圆形/方形测量的测量模式可编程和映射软件
自检功能、厚度/周边位置/温度校正功能(针对硅)
根据电阻范围从 2 种类型的测试仪中选择
(RT-3000(S):宽测量范围,RT-3000(H):高电阻测量范围)
半导体及太阳能电池材料(硅、多晶硅、SiC等)
新材料/功能材料(碳纳米管、DLC、石墨烯、银纳米线等)
导电薄膜相关(金属、ITO等)
扩散样品
硅薄膜(LTPS等)、IGZO
硅基外延、离子注入样品
其他(*请联系我们)
~8 英寸或 ~156x156mm
・选项(用于大直径尺寸:型号 RG-3000):最大 12 英寸,最大 210 x 210 毫米
①RT-3000(S);
[电阻率(电阻率)] 100μ~1MΩ・cm
[方块电阻] 1m~10MΩ/sq
②RT-3000(H);
[方块电阻] 10m~1GΩ/sq
4探针半自动玻璃基板薄膜测量仪
XY轴机构台
面内多点测量,均匀间距或随机间距设置选择,配备2-D/3-D绘图软件