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instrumentsystems取样式光度计
¥120000sibata粉尘浓度计
¥80000toadkk浊度计
¥660000tokisangyo粘度计
¥18000otsukael积分光度计
¥220000德国polytec 显微式激光测振仪
¥3000德国polytec 扫描式激光测振仪
¥3000日本nippondenshoku手持式分光光度计
¥3000日本nippondenshoku手持式色差计
¥3000日本nippondenshoku小型色差计/白度计
¥3000日本nippondenshoku色度计
¥3000日本nippondenshoku分光色度计
¥3000napson电阻测量仪 电阻计 热电阻EC-80的介绍
napson电阻测量仪 电阻计 热电阻EC-80的介绍
简单的测量仪器,只需将样品插入探头之间即可测量
在电阻率/薄层电阻测量模式之间轻松切换
通过 JOG 拨盘轻松设置测量条件
*由于探头为固定型,请在购买前从多种类型中选择一种。
半导体/太阳能电池材料(硅、多晶硅、SiC等)
新材料/功能材料(碳纳米管、DLC、石墨烯、银纳米线等)
导电薄膜(金属、ITO等)
硅基外延、 ion Injection sample
化合物半导体相关(GaAs Epi、GaN Epi、InP、Ga等)
其他(*请联系我们)
~8 英寸或 ~156x156mm
[电阻率] 1m 至 200Ω・cm
(*所有探头类型的总范围/当厚度为 500um 时)
[薄层电阻] 10m 至 3kΩ/sq
(*所有探头类型的总范围)
*请参阅以下各探头类型的测量范围。
(1) 低:0.01 ~ 0.5Ω/□ (0.001 ~ 0.05Ω-cm)
(2) 中: 0.5 ~ 10Ω/□ (0.05 ~ 0.5Ω-cm)
(3) 高:10 ~ 1000Ω/square (0.5 ~ 60Ω-cm)
(4) S-High : 1000 to 3000Ω/square (60 to 200Ω-cm)