napson电阻测量仪 电阻计 热电阻

EC-80Pnapson电阻测量仪 电阻计 热电阻

参考价: 订货量:
￥ 260000 100台

具体成交价以合同协议为准
2023-04-15 08:54:51
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深圳九州工业品有限公司

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产品简介

napson电阻测量仪 电阻计 热电阻EC-80P的介绍
简单的测量仪器，只需将样品插入探头之间即可测量
在电阻率/薄层电阻测量模式之间轻松切换
通过 JOG 拨盘轻松设置测量条件
*由于探头为固定型，请在购买前从多种类型中选择一种。

详细介绍

napson电阻测量仪 电阻计 热电阻EC-80P的介绍

napson电阻测量仪 电阻计 热电阻EC-80P的介绍

产品特点

  • 只需触摸手持探头即可测量电阻

  • 在电阻率/薄层电阻测量模式之间轻松切换

  • 通过 JOG 拨盘轻松设置测量条件

  • 可互换连接器连接的电阻测量探头支持各种电阻

  • （电阻探头：最多可使用2+PN判断探头）


测量规格

测量对象

半导体/太阳能电池材料（硅、多晶硅、SiC等）
新材料/功能材料（碳纳米管、DLC、石墨烯、银纳米线等）
导电薄膜（金属、ITO等）
硅基外延、 ion Injection sample
化合物半导体相关（GaAs Epi、GaN Epi、InP、Ga等）
其他（*请联系我们）

测量尺寸

不受样品尺寸和形状的影响（但是，大于 20 mmφ 且表面平坦的样品）均可测量

 

测量范围

[电阻率] 1m 至 200 Ω・cm
（*所有探头类型的总范围/当厚度为 500um 时）
[薄层电阻] 10m 至 3k Ω/sq

  • 节省空间，使用个人电脑轻松操作和数据处理

  • 非接触式涡流法可实现无损伤测量

  • 探头可拆卸和更换，因此每个量程的探头都可以轻松更换。

  • （*可选用于第二个和后续电阻探头）

  • 1 中心点测量

测量对象

半导体/太阳能电池材料（硅、多晶硅、SiC等）
 新材料/功能材料（碳纳米管、DLC、石墨烯、银纳米线等）
 导电薄膜（金属、ITO等）
 硅基外延、 ion Injection sample
 化合物半导体相关（GaAs Epi、GaN Epi、InP、Ga等）


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