半导体/太阳能电池材料（硅、多晶硅、SiC等）
 新材料/功能材料（碳纳米管、DLC、石墨烯、银纳米线等）
 导电薄膜（金属、ITO等）
 硅基外延、 ion Injection sample
 化合物半导体相关（GaAs Epi、GaN Epi、InP、Ga等）
 其他（*请联系我们）

2 至 8 英寸
（可选；12 英寸）

[电阻率] 1m 至 200 Ω・cm
（*所有探头类型的总范围/当厚度为 500um 时）
[薄层电阻] 10m 至 3k Ω/sq
（*所有探头类型的总范围）

*请参阅以下各探头类型的测量范围。

(1) 低：0.01 ～ 0.5Ω/□ (0.001 ～ 0.05Ω-cm)
(2) 中： 0.5 ～ 10Ω/□ (0.05 ～ 0.5Ω-cm)
(3) 高：10 ～ 1000Ω/square (0.5 ～ 60Ω-cm)
(4) S-High : 1000 to 3000Ω/square (60 to 200Ω-cm)