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napson电阻测量仪 电阻计 热电阻 电阻率CRN-100的介绍
napson电阻测量仪 电阻计 热电阻 电阻率CRN-100的介绍
超高电阻量程:10E+9~10E+15Ω/□的非接触式测量
面内多点测量功能
2-D/3-D映射图像显示
Windows7专用软件
测量数据可以CSV文件格式输出
非接触式可不受接触电阻影响进行测量
*原则上,本装置测量范围内的任何样品均可测量。请联系我们。
・超高电阻薄膜样品(a-Si、IGZO等)
・接近绝缘的半导体材料
・导电橡胶
这样的
尺寸:最大300×400mm
厚度:最大 2mm
*可以进行尺寸对应等定制。请联系我们。
10E+9 至 10E+15Ω/□
半导体/太阳能电池材料(硅、多晶硅、SiC等)
新材料/功能材料(碳纳米管、DLC、石墨烯、银纳米线等)
导电薄膜(金属、ITO等)
硅基外延、 ion Injection sample
化合物半导体相关(GaAs Epi、GaN Epi、InP、Ga等)
其他(*请联系我们)
2 至 8 英寸
(可选;12 英寸)
[电阻率] 1m 至 200 Ω・cm
(*所有探头类型的总范围/当厚度为 500um 时)
[薄层电阻] 10m 至 3k Ω/sq
(*所有探头类型的总范围)