通过用笔型探头（集成热/冷探头）接触样品来确定样品的电导率类型 (PN)

与单晶硅片、块状和硅锭兼容

*对于难以用一体式探头判断的样品，您也可以选择热/冷探头分离型。

半导体及太阳能电池材料（硅、多晶硅、SiC等）

30x30mm 或以上

可测定 PN 的样品电阻率范围：大约 1 m 至 20 kΩ
cm

• LED光脉冲照射可进行瞬时判断

• 由于非接触式方法，不会损坏样品

• 即使是表面有氧化膜的晶圆也可以判断。

半导体及太阳能电池材料（硅、多晶硅、SiC等）

2英寸或更大，也与锭块兼容

用于 PN 测定的样品电阻率范围：大约 0.1 至 1,000 Ω cm

• 非接触式激光束照射不会损坏样品

• 携带方便，因为它是电池供电（AA 电池）

• 只需按一下按钮即可确定 PN

半导体及太阳能电池材料（硅、多晶硅、SiC等）

*可确定样品尺寸是否允许激光照射

PN可判断样品电阻率范围：0.02至5,000Ω·cm

• 激光法太阳能电池片专用非接触式内置模块

• 用单面探头测量

• 支持并入用户侧传输设备等

• 通过 LAN 连接将命令/测量数据传送到主机 PC

太阳能电池片（必须有*P/N结）

156x156mm 或 210x210mm

PN判定样品电阻率范围：0.1～1,000Ω·cm