磁感应原理膜厚测量仪

仪器适于测量各种非磁性金属基体上绝缘性覆盖层的厚度。主要用于测量铝合金型材表面的阳极氧化膜或涂层厚度，还可用于测量其它铝材料、铝工件表面的阳极氧化膜或涂层厚度，以及其他有色金属材料上绝缘性覆盖层的厚度，测量塑料薄膜及纸张厚度。

仪器适于在生产现场、销售现场或施工现场对产品进行快速、无损的膜厚检查， 可用于生产检验、验收检验和质量监督检验。
仪器符合标准GB/T4957-2003 《非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量涡流法》。

还是采用磁性原理测量较为合适

磁感应原理膜厚测量仪X射线衍射装置
简单地说萤光X射线装置（XRF）和X射线衍射装置（XRD）有何不同,萤光X射线装置（XRF）能得到某物质中的元素信息（物质构成,组成和镀层厚度）,X射线衍射装置（XRD）能得到某物质中的结晶信息。具体地说,比如用不同的装置测定食盐）时,从萤光X射线装置得到的信息为此物质由钠（Na）和氯（Cl）构成,而从X射线衍射装置得到的信息为此物质由（NaCl）的结晶构成。单纯地看也许会认为能知道结晶状态的X射线衍射装置（XRD为好,但当测定含多种化合物的物质时只用衍射装置（XRD）就很难判定,必须先用萤光X射线装置（XRF）得到元素信息后才能进行定性。膜厚仪也叫X射线测厚仪，它的原理是物质经X射线或粒子射线照射后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析。

磁感应原理膜厚测量仪功能：

采用了磁性和涡流两种测厚方法，即可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度；
可采用两种方法对仪器进行校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正；
操作过程有蜂鸣声提示；
电池电压指示：低电压提示
自动关机
测量方法：F 磁感应 NF 涡流