XT-50冲击试样投影仪
一、产品概述：
XT-50型冲击试样投影仪是我公司根据广大用户的实际需要和GB/T299-2007《金属夏比冲击试验方法》中对冲击试样缺口的要求而开发的一种专用于检验夏比V型和U性型缺口加工质量的光学仪器，该仪器是利用光学投影方法将被测的冲击试样V型和U型缺口轮廓放大50倍后投射到投影屏上，与投影屏上的冲击试样V型和U型缺口标准样板图对比，以确定被检测的试样缺口是否合格。其优点是操作简便，对比直观。
二、工作原理：
本投影仪光源发出的光线经聚光镜照射到被测物体，再以物镜将被照射物体放大的轮廓投射到投影屏上。本仪器为单一投射照明，光源通过一系列光学元件投射在工作台上，再通过一系列光学元件将被测试样缺口轮廓清晰地投射到投影屏上。物体经二次放大和二次反射成正像，在投影屏上所看到的图形与实际试样放置的方位一致。
三、技术参数：
技术名称 | 技术参数 |
投影屏直径（mm） | 180 |
方工作台尺寸（mm） | 110×125 |
圆工作台直径（mm） | 90 |
工作台玻璃直径（mm） | 70 |
工作台转动范围 | 0~360° |
仪器放大倍率 | 50X |
物镜放大倍率 | 2.5X |
投影物镜放大倍率 | 20X |
光源（卤钨灯） | 12V/100W |
外形尺寸（长×宽×高）（mm） | 515×224×603 |
