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X荧光光谱仪(真空型)配置真空测试系统以及SDD（硅漂移）探测器，元素测试范围广、检出限低、数据稳定性好。
广泛应用于电子、电器、塑胶塑料、五金、玩具、包装印刷以及产品等公司内部进行质量把控。
适用于ROHS检测、卤素测试、玩具重金属检测和合金元素分析等各领域使用。
| 探测器 | 美国Amptek SDD探测器，高速脉冲分析系统 |
| 高压电源 | 美国Spellman (50kv/MA) |
| X射线管 | 新型X光管 |
| 能量分辨率 | 140±5ev |
| 元素分析范围 | 钠（Na）到铀（U） |
| 分析含量 | 1ppm到99.99% |
| 测量时间 | 60—300s |
| 交流220v供电设备 | 1KVA交流净化稳压电源 |
| 工作温度 | 10-30°C |
| 测量条件 | 大气环境 |
合金（如不锈钢、铜合金、铝合金等合金）所含元素含量分析（如Cu、Zn、Pb、Sn、Fe、Ni、Mn、Sb、Al、Si、Cr、Mo、Co、Ti、V等元素）。
不锈钢元素含量分析
铜合金元素含量分析
铝合金元素含量分析
