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高压蒸煮试验 ----
高压蒸煮试验PCT (Pressure Cooker Test）是国内外常用的耐湿性加速试验。 PCT 试验条什是恒温、恒压、相对湿度。 把器件置于密闭系统，通过改变温度进行儿个应力组的试验，得到器件的失效分布规律，从而推出常温、常压、饱和湿度时器件的寿命特征。
高压蒸煮试验采用高压、高湿条件，主要检验塑料封装的半导体集成电路和空封器件等电子器件的综合影响，是用高加速的试验方式评价电子产品耐湿热和密封的能力，常用于产品开发、质量评估、失效验证。
高压蒸煮试验的技术指标包括：大气压力、相对湿度（饱和或非饱和） 、温度、试验时间。
常用于塑料封装的半导体器件、集成电路、密封继电器，密封器件等。
参考标准：
JESD22-A100C 湿热循环偏压寿命试验
