PJ40半导体检查显微镜-浙江普朗克仪器有限公司手机版

详细介绍

PJ40半导体检查显微镜

仪器简介

1、各种观察方法下都能得到清晰锐利与高对比度的显微图像。附件齐全,配置完善,可灵活进行系统组合与功能拓展。人机工程学设计，拥有坚实可靠的系统结构。

2、这款经济高效的显微镜能够检查多种器件和晶圆。调焦机构和照明强度控制装置相互紧挨，可使用同一只手操作。特别适合中小尺寸半导体FPD检查，线路板切片量测，符合行业标准，增强了安全性和可靠性。

3、的明场光学系统，采用全新半复消技术，集明场、斜照明、偏光等多种观察方式，任何观察下都能呈现清晰锐利的显微图像，可根据实际应用，进行功能选择，是工业检测的有效工具。