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HAST半导体高加速老化测试系统

HAST高加速寿命试验箱是主要用于评估在湿度环境下产品或者材料的可靠性，是通过在高度受控的压力容器内设定和创建温度、湿度:压力的各种条件来完成的，这些条件加速了水分穿透外部保护性塑料包装并将这些应力条件施加到材料本体或者产品内部。相对于传统的高温高湿测试，HAST增加了容器内的压力，使得可以实现超过100℃条件下的温湿度控制，能够加速温湿度的老化效果。

HAST半导体高加速老化测试系统

用于评估非气密性封装IC器件、金属材料等在湿度环境下的可靠性。该试验检查芯片长期贮存条件下，高温和时间对器件的影响。本设备适用于量产芯片验证测试阶段的HAST测试需求，仅针对非密封封装(塑料封装)，带偏置(bHAST)和不带偏置(uHAST)的测试。

HAST半导体高加速老化测试系统

标准设计更安全，内胆圆弧设计防止结露滴水，符合国家安全容器规范

多重保护功能，两道高温保护装置、湿度用水断水保护、超压保护

稳定性更高:内置自研PID控制算法，确保温度、湿度以及压力值准确度

湿度自由选择:饱和与非饱和自由设定

智能化高:USB数据、曲线导出保存