薄膜测量

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具体成交价以合同协议为准
2024-08-13 08:04:52
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北京爱万提斯科技有限公司--Avantes

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产品简介

薄膜测量该系统为单层膜测量提供了所需的测量工具，包括反射探头和支架，可以测量的膜层厚度从10nm到50μm，分辨率可达1nm，测量范围从紫外/可见到近红外（200-1100nm）

详细介绍

薄膜测量

该系统为单层膜测量提供了所需的测量工具，包括反射探头和支架，可以测量的膜层厚度从 10 nm 到 50μm， 分辨率可达 1 nm，测量范围从紫外 / 可 见到近红外（200-1100 nm）。

典型应用领域

  • 半导体工业

  • 太阳能电池板

  • 镀膜


订购信息

AvaSpec—Thin Film

光谱仪 

AvaSpec-ULS2048CL-EVO

Grating UA (200-1100nm)
100 μm slit, DCL-UV/VIS-200

OSC-UA
AvaSoft-Thinfilm

光源

Avalight-DHc

 PS-12V/1.0A 

光纤

FCR-7UVIR200-2-ME


附件

THINFILM-STAGE 支架和标准板



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