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X射线荧光分析仪(XRF)不仅可以识别构成样品的元素,还可以通过检测用X射线照射样品而产生的每种元素的荧光X射线来分析其成分比例。XRF原则上是一种非破坏性、非侵入性测量设备。
应用包括采矿领域采矿和试钻过程中的矿物分析、工业领域材料等金属和合金的识别和分选、RoHS和CPSIA等安全合规性测试以及利用手持功能的SDG领域。预计将应用于广泛的领域,包括废品工厂废旧金属的识别和分选、环境领域的土壤污染调查以及利用其非侵入性特性对艺术品和工艺品进行鉴定。
X-50系列是一款低价型号。可以利用XRF功能,并以与型号相同的用户界面,而价格仅为旗舰型号的 50%。
品牌:NIRECO株式会社ニレコ
名称:X射线荧光分析仪
型号:X-50
X射线管电压和靶材 | 40kV Rh管或50kV Au管 |
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探测器 | 7mm 2 PIN 二极管探测器 |
工作环境温度 | -10°C 至 50°C(25% 占空比) |
电源 | 可以使用锂离子电池(可拆卸)和随附的交流适配器进行操作 |
展示 | 3.5英寸彩色触摸屏 |
数据传输 | USB、WiFi、蓝牙 |
样本记录 | 配备两个摄像头:照射窗摄像头和全景摄像头。 |
重量 | 1.4kg(含电池) |