半导体 两箱式冷热冲击试验箱

可用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、 半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质，从精密的IC到重机械的组件，都需要它的理想测试工具。

半导体 两箱式冷热冲击试验箱

功能特点：

1、两相式，试品移动；

2、冲击方式：二温选择；

3、大容量程式设置，强大数据管理功能；

4、能提供高低温突变的试验环境，供产品试验用；

5、大屏幕彩色显示运行状态，触摸屏，中英文选择；

6、采用生产技术，成倍提供制冷效率，特别节省电能。

技术参数：

1.温度范围：-20℃～150℃
2.湿度范围：20%～98%R.H
3.温度均匀度：≤±2℃（空载时）
4.湿度均匀度：+2%-3%R.H
5.温度波动度：≤±0.5℃（空载时）
6.湿度波动度：±2%
7.温度偏差：≤±2℃
8.湿度偏差：≤±2%
9.降温速率：0.7～1.0℃/min
10.升温速率：1.0～3.0℃/min
11.时间设定范围：0～999小时
12.电源电压：380V±10%
13.设备总功率：3KW～15KW