DV芯片冷热冲击试验箱 老化测试箱

性能

温度范围：-20℃～+150℃-40℃～+150℃-60℃～+150℃-70℃～+150℃

温度波动度：±0.5℃

温度偏差：≤ ±2.0℃

升温时间：-20→+150℃≤ 35分钟（约3℃/min）

降温时间：+20→-20℃≤45分钟（约1.2℃/min）

DV芯片冷热冲击试验箱 老化测试箱

特点：

1、高质感外观，机体采圆弧造型，表面经雾面条纹处理，并采用平面无反作用把手，操作容易，***。

2、具可外接式供水系统，方便於补充加湿桶供水，并自动回收使用。

3、长方形复层玻璃观视窗，可在试验中进行试验品观察使用，视窗具防汗电熟器装置可防止水气凝结水滴，及高亮度PL萤光灯保持箱内照明。

4、具有测试孔可外接测试电源线或信号线及上下可调整置物盘。

5、箱门双层隔绝气密迫紧，可有效隔绝内部温度泄漏。

6、控制器采用TEMI880韩国进口彩色触控显示屏幕，可同时显示测定值及设定值．时间。

7、控制器具多段程式编辑及温度、湿度可做快速（QUICK）或斜率（SLOP）控制。

8、内置式移动滑轮便於移动及摆放并具***定位螺丝固定位置。

9、压缩机循环系统采用法国“泰康”牌，更能有效去除冷凝管与毛细管间的润滑油并全系列采用美国杜邦环保冷媒（R404）。

10、内箱材质:SUS#304镜面不锈钢板。

11、外箱材质:SUS#304拉丝纹不锈钢板或钢板表面喷塑处理。

12、箱体内设有高度可调之不锈钢置物架；机身底部装设聚氨脂活动万向车轮或可调高度之平水脚杯；自动给水泵浦；两层真空玻璃加大窗口,电热自动除霜

技术参数：

1.温度范围：-20℃～150℃
2.湿度范围：20%～98%R.H
3.温度均匀度：≤±2℃（空载时）
4.湿度均匀度：+2%-3%R.H
5.温度波动度：≤±0.5℃（空载时）
6.湿度波动度：±2%
7.温度偏差：≤±2℃
8.湿度偏差：≤±2%
9.降温速率：0.7～1.0℃/min
10.升温速率：1.0～3.0℃/min
11.时间设定范围：0～999小时
12.电源电压：380V±10%
13.设备总功率：3KW～15KW